GXG-MON-Ⅱ型光纤传感基础实验系统

一、 实验目的

1、了解半导体激光器阈值的概念，通过测量出来的功率、电压和电流值，描绘半导体激光器的P-I、V-I曲线，并通过曲线计算半导体激光器的阈值及串联电阻。

2、掌握强度型光纤透射传感及光纤反射传感的基本原理与调制方式；了解强度型光纤透射传感器和光纤反射传感器的理论分析方法、调制特性曲线及相关影响因素。

3、掌握光纤弯曲损耗的基本规律；了解光纤弯曲传感原理与技术。

  4、了解和掌握光纤数值孔径的测量方法。

二、 仪器配置与技术参数

  实验由测试仪主机、手持式光功率计、反射式光纤传感器、对射式光纤传感器、光纤弯曲变形调制器、反射镜、精密光学调整架、测角仪、光纤跳线、数据线、测试仪安装程序、光学平板等组成。

  LD光源波长：1550±20nm。功率探头：波长范围：800～1700nm。 接口类型：FC/PC。反射式光纤传感器：纤芯直径Ф1+Ф0.265x16。长度600mm。 对射式光纤传感器：纤芯直径1mm。长度600mm。光接收元件：InGaAs PIN。 电流步长选择：0.25mA、0.5mA、1mA、2mA。实验软件：可自动测量并绘出P—I、V—I曲线。精密平移台：X-Y双向调节，驱动方式：微分头；分辨率：0.002mm。 测角仪：带游标，粗调范围360°，最小刻度1°，最小读数2′。光学平板：采用优质铝合金材料，尺寸：300x600x13mm。

三、实验装置示意图